冠層分析儀可以同時測量光合有效輻射(PAR)和葉面積指數(shù)(LAI)。光合有效輻射(PAR)和葉面積指數(shù)(LAI)是評估植物健康狀況和植物冠層結(jié)構(gòu)的重要指標。PAR表示有多少光能可被植物光合作用利用；LAI可用于估計冠層密度和生物量，是植物冠層結(jié)構(gòu)的一項重要表征參數(shù)。儀器出廠前經(jīng)過校驗，校驗值儲存于內(nèi)存中，故在使用過程中無須校驗。目前，被廣泛應用于農(nóng)業(yè)、林業(yè)和植物學等研究領域。
 

　　冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，本儀器采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中省力、省時、快捷方便的方法。
 

　　儀器為一體化設計，包括液晶顯示屏、操作按鍵、存儲SD卡及測量探桿等。儀器菜單操作簡單，體積小，攜帶方便。存儲介質(zhì)為市場上通用的SD卡，存儲容量大，數(shù)據(jù)管理方便!在功耗上有合理的電源管理方案，測試過程中儀器根據(jù)實際情況自動進入待機狀態(tài)，需要時按喚醒鍵即可喚醒屏幕，觀察實際數(shù)據(jù)。測量方式分為自動和手動兩種。自動測量時間間隔1分鐘，自動測量次數(shù)達99次，手動測量根據(jù)實際需要手動采集即可。
 

　　冠層分析儀引入到農(nóng)業(yè)科研當中，使得分析植物冠層結(jié)構(gòu)成為了可能，更好的優(yōu)化植物群體冠層結(jié)構(gòu)，提高植物的光能利用，達到增產(chǎn)增收的效果，對現(xiàn)代農(nóng)業(yè)的發(fā)展起到了重要的推動作用。